合金分析仪的操作方案包括: （1） x 射线发射; （2） x 射线返回探测器; 以及作为表面检查技术的手持式光谱仪。在一些轻合金中，例如铝合金、XRF技术发展企业管理只能通过进行研究检查数据分析样品表面具有以下的数百微米的深度。一些主要的金属，如铁、铜或 x 射线荧光，在不超过100米的深度就能被探测到。对于金和铅等稠密材料，只有样品表面可以在几十微米的深度进行检查和分析。这意味着，当使用x光荧光技术进行检查时，如果材料的表面没有正确地代表整个材料的组成，则不能获得可靠的检查数据。表面环境污染，例如油漆、保护层、镀层，分析问题研究调查结果就是我们可能会导致出现大大歪曲。同样，喷砂、喷砂、研磨和污垢处理后留在表面的物质也会影响物质成分鉴别的结果。因此，在使用合金分析仪技术企业进行检查结果分析样品可以通过自己之前，请务必清洁样品。

手持式光谱仪可以使用低功率X射线管分析合金元素。发射的x射线和返回的x射线都是低功率的，测量时必须使手持式合金分析仪接近样品。理想的是使样品进行直接通过接触手持式合金分析仪的测量窗。如果样品具有复杂的几何形状，则难以检查，但合金分析仪的主体较窄，可以尽量接近斜面样品。