在购买手持式合金分析仪时，确定需要硅漂移探测器（SDD）还是PIN探测器是您需要做出的首要选择之一。

奥林巴斯Vanta Element 合金分析仪系列中的两款分析仪就配备了两种不同的探测器：Vanta Element分析仪装配有PIN探测器，而Vanta Element-S分析仪装配有SDD探测器。

SDD对比PIN：它们之间有什么差别？

硅漂移检测器（SDD）是一种较新的技术，其每秒钟的X射线计数率比PIN探测器大约多10倍。SDD探测器的分辨率也比PIN探测器大约低40 eV。不过，伴随着SDD性能的提高是成本的增加。

在确定哪种探测器更适合您的时候，您需要考虑打算如何使用合金分析仪。在此要问您两个重要的问题：

1、您是否需要测量一些轻元素，如：镁（Mg）、铝（Al）、硅（Si）、磷（P）、硫（S）、氯（Cl）、钾（K）或钙（Ca）?

这些较轻元素的定量性检测只能由装配有SDD探测器的分析仪完成。许多人因此错误地认为不能使用装配了PIN探测器的分析仪对铝合金进行分拣。但是，配备了PIN探测器的分析仪可以基于较重元素（如：铜、铬或铁）的含量对许多铝合金牌号进行分拣。当然要进行更细微的区分，如：镁含量不同的6061铝和6063铝，需要使用配备了SDD探测器的分析仪。